[发明专利]用于测量受测试装置的相位噪声的设备在审
| 申请号： | 201911044482.X | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN111123068A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 周楙轩;张智贤;沈瑞滨;张雅婷 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H03M3/00 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人： | 顾伯兴 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本揭露公开一种用于测量受测试装置(DUT)的相位噪声的设备。在一些实施例中，公开一种用于形成多级噪声整形(MASH)式高阶Δ∑时间‑数字转换器(TDC)的设备。在一些实施例中，设备包括形成于集成电路(IC)芯片中的多个一阶Δ∑时间‑数字转换器，其中一阶Δ∑时间‑数字转换器中的每一个以多级噪声整形式配置彼此连接以提供多级噪声整形式高阶Δ∑时间‑数字转换器，其中多级噪声整形式高阶Δ∑时间‑数字转换器经配置以测量受测试装置(DUT)的相位噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 测试 装置 相位 噪声 设备 | ||
【主权项】：
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