[发明专利]中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质有效
| 申请号： | 201911050188.X | 申请日： | 2019-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN110990999B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 雷柏茂;李骞;叶志鹏;李亚球;陈强;朱嘉伟 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/04 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 张彬彬 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；基于中子管性能退化模型处理待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额，得到待测中子管的等效寿命，从而避免了传统技术中需要全时测试的问题，缩短的中子管的测试耗时，还避免了传统技术中因需要数量较多测试样品而造成的投入成本的问题，降低了测试投入成本。 | ||
| 搜索关键词： | 中子 寿命 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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