[发明专利]一种基于MES系统的LED晶圆点测自动化系统

摘要

本发明公开了一种基于MES系统的LED晶圆点测自动化系统，通过采用系统管理的思维，LED芯片测试机与MES系统进行实时数据交互，使MES系统可以实时获取测试设备运行状态，从而进行统计分析和管理。

主权项

1.一种基于MES系统的LED晶圆点测自动化系统，其特征在于，包括以下步骤：/n1)将参与到LED晶圆点测生产的LED芯片测试机与MES系统进行联网，进行实时数据交互；/n2)在MES系统中注册LED芯片测试机程序参数的基准档案；/n3)在LED芯片测试机中建立参数输入程序和生产调用程序，通过参数输入程序输入对应的测试参数，参数输入完毕后打开生产调用程序；/n4)打开生产调用程序后MES系统调用参数输入程序输入的测试参数，与MES系统中的基准档案记性对比，当输入的测试参数与基准档案中的参数无法对应，设备报错，生产停止，当输入的测试参数与基准档案中的参数配对正确，LED芯片测试机将测试参数载入，操作人员按下设备开始按钮启动测试生产；/n5)测试生产过程中，设备持续采集LED晶圆的测试数据，并且与输入的测试参数进行对比，当设备没有采集到测试数据，生产发生异常，设备报错，当设备持续有检测数据录入，生产过程正常进行，直至产品全部检测完成；/n6)当所有LED晶圆完成检测，LED芯片测试机通过Port command方式发送指令给MES系统，系统自动开始采集当前晶圆测试结果数据。/n