[发明专利]直流微电阻测量方法及装置有效
| 申请号： | 201911057061.0 | 申请日： | 2019-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN110749773B | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 罗欣儿;田杰;余鹏 | 申请（专利权）人： | 深圳供电局有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R35/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 汪洁丽 |
| 地址： | 518001 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种直流微电阻测量方法及装置，包括：首先根据待测电阻的功率通入预设电流，记录所述待测电阻在预设时间内的阻值变化和温度变化，并得到多个第一阻值和多个与各个所述第一阻值对应的第一温度值。其次，根据多个所述第一阻值和所述第一温度值确定所述待测电阻的温度变化曲线。最后，将所述温度变化曲线与多个预设温度变化曲线进行比对，从而可确定所述待测电阻的性能参数。本申请不仅能够校正温度对标准电阻的影响，还提高了测量的可靠性，测试过程更加便捷快速。 | ||
| 搜索关键词： | 直流 电阻 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种直流微电阻测量方法，其特征在于，包括：/n根据待测电阻的功率通入预设电流，记录所述待测电阻在预设时间内的阻值变化和温度变化，并得到多个第一阻值和多个与各个所述第一阻值对应的第一温度值；/n根据多个所述第一阻值和所述第一温度值确定所述待测电阻的温度变化曲线；/n将所述温度变化曲线与多个预设温度变化曲线进行比对，以确定所述待测电阻的性能参数。/n
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