[发明专利]一种芯片测试治具有效
| 申请号： | 201911064843.7 | 申请日： | 2019-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN110673020B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 吴永青;吴鹏杰;戴安泰;张亮亮 | 申请（专利权）人： | 环维电子（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 董磊 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试治具，包括：底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片安装槽配合，用于压紧测试芯片；按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；卡合件，与所述手柄连接。本发明通过在上盖上设置挤压件、手柄及连接在手柄上的鱼钩件，使上盖与底座扣合，从而将测试芯片压紧，省力方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试治具，其特征在于，包括：/n底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；/n上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；/n压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片放置槽配合，用于压紧测试芯片；/n按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；/n手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；/n卡合件，与所述手柄连接。/n
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