[发明专利]磁力线遮蔽控制反应腔室磁场的蚀刻机结构在审

专利信息
申请号: 201911073017.9 申请日: 2019-11-05
公开(公告)号: CN112768333A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 林志隆;蔡兆哲;陈俊龙 申请(专利权)人: 聚昌科技股份有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张琳
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种磁力线遮蔽控制反应腔室磁场的蚀刻机结构,其包括:第一等离子体反应腔体,具有第一反应腔室;第一线圈模块,环绕设置于第一反应腔室的外围;以及第一磁力线遮蔽模块,环绕设置于第一线圈模块的外围。借由本发明的实施,可以阻挡及/或反射第一线圈模块的磁力线及/或电磁波向外扩散且控制磁力线的形状,以有效创造更多制造过程参数,以便更精密的生产各类产品。
搜索关键词: 磁力线 遮蔽 控制 反应 磁场 蚀刻 结构
【主权项】:
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