[发明专利]薄膜键盘PCBA测试装置及方法在审
| 申请号： | 201911079508.4 | 申请日： | 2019-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN110673022A | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 肖国晟;苏冠勳;尹海松;文发慧;许小丽;苏品忠;陈桂林;吴胜堂 | 申请（专利权）人： | 东莞美泰电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 32204 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) | 代理人： | 吴海燕 |
| 地址： | 523560 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种薄膜键盘PCBA测试装置及方法，包括测试治具，测试治具通过治具探针连接PCBA金手指，并连接上位机；测试治具包括内置测试板，内置测试板包括MCU和若干选通开关单元，治具探针将PCBA键行列分别连接于不同的选通开关单元，选通开关单元的使能端和选通控制端均连接于MCU，MCU控制PCBA键行列的短路导通，薄膜键盘PCBA测试前需开启上位机测试程序，薄膜键盘PCBA微处理单元通过USB通讯或其他无线通讯方式将测试数据同步上传给上位机，上位机测试软件显示测试状态及测试结果。本发明采用一键启动，模拟键盘所有键测试全功能，操作简单，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜键盘 测试治具 选通开关 上位机 内置测试 治具 上位机测试软件 无线通讯方式 微处理单元 选通控制端 测试 测试程序 测试数据 测试效率 测试装置 测试状态 模拟键盘 探针连接 一键启动 金手指 全功能 短路 行列 导通 上传 使能 探针 | ||
【主权项】：
1.一种薄膜键盘PCBA测试装置，其特征在于，包括上位机、测试治具和电源；所述测试治具包括内置测试板、电源接口、测试开关、上位机接口和探针接口，电源接口、测试开关和探针接口均连接于内置测试板，上位机接口通过治具探针连接于薄膜键盘PCBA的USB接口探点；/n所述测试治具通过治具探针连接薄膜键盘PCBA的金手指，治具探针连接于探针接口，通过电源接口连接电源，通过上位机接口连接上位机；所述测试治具通过测试开关启动，对PCBA进行测试，实时将测试数据上传上位机，上位机测试软件显示测试状态及测试结果。/n
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