[发明专利]一种平面波导阵列光栅解复用器的测试制具及其测试方法有效
| 申请号： | 201911084679.6 | 申请日： | 2019-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN110779619B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 余创;黄望隆 | 申请（专利权）人： | 武汉驿路通科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01M11/02;G01M11/00 |
| 代理公司： | 武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙) 42251 | 代理人： | 尹伟 |
| 地址： | 430200 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种平面波导阵列光栅解复用器的测试制具及其测试方法，其治具包括底座、竖直挡板、三维调节架、吸附组件和负压组件，竖直挡板设置在底座上，竖直挡板的上端设有定位治具，三维调节架滑动设置在底座上并位于竖直挡板的一侧，且当三维调节架滑动至与竖直挡板接触时，吸附组件将二者连接固定，竖直挡板上表面设有真空吸附治具，真空吸附治具的上表面设有条形槽，且条形槽内的一端底壁与负压组件连通。本发明通过吸附组件配合负压组件将待测平面博导阵列光栅解复用器固定于三维调节架上，并通过三维调节架来回移动，方便放入和取出，不容易在定位时发生破损，不会在测试结束后取出时发生碰撞导致破损，大大提高了测试效率，保证产品质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平面 波导 阵列 光栅 解复用器 测试 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种平面波导阵列光栅解复用器的测试制具,其特征在于：包括底座(1)、竖直挡板(2)、三维调节架(10)、吸附组件和负压组件，所述竖直挡板(2)设置在所述底座(1)上，所述竖直挡板(2)的上端朝向所述三维调节架(10)的一侧设有用于固定高速光功率计(13)的定位治具(12)，所述三维调节架(10)滑动设置在所述底座(1)上并位于所述竖直挡板(2)的一侧，且当所述三维调节架(10)滑动至与所述竖直挡板(2)接触设置时，所述吸附组件将所述三维调节架(10)与所述竖直挡板(2)连接固定，且所述定位治具(12)恰好悬空位于所述三维调节架(10)的正上方，所述竖直挡板(2)上表面设有真空吸附治具(11)，所述真空吸附治具(11)的上表面设有用于容纳待测平面波导阵列光栅解复用器(14)的条形槽(1102)，且所述条形槽(1102)内靠近待测平面波导阵列光栅解复用器(14)的反射区(1401)的一端底壁与所述负压组件连通。/n
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