[发明专利]一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测方法有效
| 申请号： | 201911111253.5 | 申请日： | 2019-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN110672626B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 张弛;朱磊;侯晓峰 | 申请（专利权）人： | 上海感图网络科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京伊诺未来知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11700 | 代理人： | 杨群 |
| 地址： | 201800 上海市嘉定区科福*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及图像缺陷识别领域，特别涉及一种应用于手机壳体中框表面颗粒缺陷识别所使用的检测方法。一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测装置，其中，包括手机壳体传送抓取部分和缺陷采集识别部分，其中手机壳体传送抓取部分用于手机壳体的抓取、移动及固定，缺陷采集识别部分用于对固定的手机壳体采集信息并识别缺陷。本发明的效果是：a.增强形变缺陷的特征，使得颗粒缺陷显示的更明显。b.增强形变缺陷的清晰度，使得直径小于0.1mm的颗粒缺陷更加容易被发现。c.增强在高亮，高反光的弧面上缺陷的识别度，使得在特殊角度和特殊位置的无法被人眼看到的颗粒缺陷全部显示出来。d.降低灰尘和脏污的特征，减少其对颗粒缺陷识别的影响，使得缺陷识别率大大增加。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 手机 壳体 表面 颗粒 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测装置，其特征在于：包括手机壳体传送抓取部分和缺陷采集识别部分，其中手机壳体传送抓取部分用于手机壳体的抓取、移动及固定，缺陷采集识别部分用于对固定的手机壳体中框表面采集信息并识别缺陷。/n
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