[发明专利]一种GIS内部触头接触不良的模拟装置及红外校准方法有效
| 申请号： | 201911114202.8 | 申请日： | 2019-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN111024233B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 高凯;陈洪岗;黄华;卢有龙;金立军;乔辛磊;马利 | 申请（专利权）人： | 国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01R31/54 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 翁惠瑜 |
| 地址： | 200122 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种GIS内部触头接触不良的模拟装置及红外校准方法，所述模拟装置包括壳体以及设置于壳体内的静导体、动导体、非标梅花触头、绝缘子和触头绝缘支架，所述静导体一端、非标梅花触头、动导体一端依次连接，构成导电回路，且所述静导体与非标梅花触头固定连接，动导体与非标梅花触头可拆卸连接，所述静导体另一端通过绝缘子与壳体连接，所述动导体另一端通过绝缘子与壳体连接，所述触头绝缘支架套在非标梅花触头上并与壳体连接，所述非标梅花触头为弹簧中径可变的梅花触头。与现有技术相比，本发明代替GIS母线筒来进行故障模拟与测试，并可进行红外校准实验，提高红外检测的准确度，达到便捷地检测GIS故障的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 gis 内部 接触 不良 模拟 装置 红外 校准 方法 | ||
【主权项】：
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