[发明专利]晶片的制造方法、线锯用再利用浆的品质评价方法和线锯用使用完毕浆的品质评价方法在审

专利信息
申请号: 201911119131.0 申请日: 2019-11-15
公开(公告)号: CN111195991A 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 利根俊辅;铃木一彦;南畑祐司;舟山诚 申请(专利权)人: 胜高股份有限公司
主分类号: B28D5/04 分类号: B28D5/04;B28D7/00;B24B27/06;G06F30/20
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王岳;闫小龙
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及晶片的制造方法、线锯用再利用浆的品质评价方法和线锯用使用完毕浆的品质评价方法。提供能够通过抑制起因于再利用浆的品质的加工品质的劣化来稳定地提高晶片的平坦度的晶片的制造方法,所述再利用浆被提供给利用线锯的切片加工。利用供给了包括磨粒和冷却剂的浆的线锯来对锭进行切片加工。使用完毕浆被回收而在分离和除去小颗粒之后新添加混合磨粒和冷却剂而做成再利用浆。再利用浆在新的锭的切片加工时被供给到线锯。本发明的特征在于,使再利用浆的依照下述定义的小颗粒体积分数RA为5.0%以下,小颗粒体积分数RA:将所述再利用浆中的颗粒的体积粒度分布中的平均粒径设为RA1,将具有作为RA1/2的基准粒径RA2以下的粒径的颗粒定义为小颗粒,为所述再利用浆中的颗粒之中所述小颗粒所占有的体积比率。
搜索关键词: 晶片 制造 方法 线锯用 再利用 品质 评价 使用 完毕
【主权项】:
暂无信息
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