[发明专利]基于交错拼接应用的CMOS成像系统有效

专利信息
申请号: 201911126411.4 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN110855864B 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 余达;刘金国;韩诚山;薛旭成;姜肖楠;张艳鹏;许亮 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H04N5/225 分类号: H04N5/225;H04N5/232;H04N5/374
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 朱红玲
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 基于交错拼接应用的CMOS成像系统,涉及CMOS成像技术领域,解决现有大幅宽的成像中,采用探测器拼接实现,导致焦面线路板长度方向受限,并且由于探测器中间没有位置摆放滤波电容,进而导致滤波电容距离管脚过远的问题,包括相机控制器和n个成像组;每个成像组均包括422通信控制模块、时序驱动控制模块、数据整合及发送模块、数传接口和成像焦面组;成像组内包含数传接口模块,成像焦平面模块,数据整合及发送模块,时序驱动模块和422通信控制模块;本发明的成像系统保证大幅面的CMOS成像稳定可靠;减小成像线路板的器件占用空间,提高滤波效果,从而提高成像性能。增加探测器的有效散热面积,减小温度变化,从而提高暗电流等成像参数的稳定性。
搜索关键词: 基于 交错 拼接 应用 cmos 成像 系统
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911126411.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top