[发明专利]封装及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201911126604.X 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN112420646A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 陈明发;陈宪伟;叶松峯 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/485 分类号: H01L23/485;H01L23/48;H01L21/56;H01L21/60
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 薛恒;王琳
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 封装包括第一管芯、第二管芯、包封体、以及绝缘层穿孔。第一管芯具有第一接合结构。第一接合结构包括第一介电层及嵌置在第一介电层中的第一连接件。第二管芯具有第二接合结构。第二接合结构包括第二介电层及嵌置在第二介电层中的第二连接件。第一介电层与第二介电层混合接合。第一连接件与第二连接件混合接合。包封体侧向包封第二管芯。绝缘层穿孔穿透包封体且与第一接合结构连接。
搜索关键词: 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
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