[发明专利]一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法有效
| 申请号： | 201911127966.0 | 申请日： | 2019-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN111007314B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 黄德华;冯杰;张坤;李远远;方宏飞 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/16 | 分类号： | G01R23/16;G01R13/02 |
| 代理公司： | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人： | 罗华 |
| 地址： | 518054 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：(1)在示波器上调出余辉模式；(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。通过该方法，可以有效地测试和判断SOC(System on chip)端输出信号是否稳定可靠，对系统通讯的稳定性提供进一步的保障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通过 示波器 余辉 模式 测量 soc 信号 稳定性 方法 | ||
【主权项】：
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