[发明专利]一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置有效
| 申请号： | 201911128485.1 | 申请日： | 2019-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN110971990B | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 郑文强;蒋旭;侯阳洋 | 申请（专利权）人： | 武汉光谷信息光电子创新中心有限公司;武汉光迅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04Q11/00 | 分类号： | H04Q11/00;H04B10/077 |
| 代理公司： | 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 | 代理人： | 何婷 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及光通信技术领域，具体涉及一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置，方法包括：通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；待测OLT接收ONU发送的光信号，并向控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。本发明通过单控制芯片即可产生特定的检测时序，并采用特殊计数检测实现响应电平、去响应电平及响应时间的测试，降低了硬件设备要求与电路实现难度，测试复杂性、成本、测试效率都有很大优化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 olt 模块 突发 sd los 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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