[发明专利]集成电路测试机连接性检测系统在审

专利信息
申请号: 201911132414.9 申请日: 2019-11-19
公开(公告)号: CN110703072A 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 姜伟伟;苏广峰;向俊武;周游;陈小跃;陈浩 申请(专利权)人: 安测半导体技术(江苏)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/52;G01R31/55
代理公司: 32102 南京苏科专利代理有限责任公司 代理人: 陈栋智
地址: 225000 江苏省扬*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种集成电路测试机连接性检测系统,包括接口电路,内部设置有多个连接测试机通道的测试电路,所述测试电路包括:保护电路,用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内;待测电路,用于接入连接性测试的标准二极管;开路比较电路,用于开路时的电压进行比较及信号灯显示;短路比较电路,用于短路时的电压比较及信号灯显示;导通比较电路,用于导通时的电压比较及信号灯显示,通过本发明可实现批量对集成电路的测试,测试更加灵活方便,可用于集成电路测试中。
搜索关键词: 信号灯显示 测试电路 待测电路 电压比较 短路 测试 导通 开路 集成电路测试机 集成电路测试 标准二极管 连接测试机 连接性检测 电压钳制 接口电路 接入连接 内部设置 可用 集成电路 电路 灵活
【主权项】:
1.一种集成电路测试机连接性检测系统,其特征在于,包括接口电路,内部设置有多个连接测试机通道的测试电路,所述测试电路包括:/n保护电路,用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内;/n待测电路,用于接入连接性测试的标准二极管;/n开路比较电路,用于开路时的电压进行比较及信号灯显示;/n短路比较电路,用于短路时的电压比较及信号灯显示;/n导通比较电路,用于导通时的电压比较及信号灯显示。/n
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