[发明专利]流程控制的测试方法、系统、可读存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 201911142352.X | 申请日： | 2019-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN110928781A | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 宋宝栋 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 张燕 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种流程控制的测试方法、系统、可读存储介质及电子设备，所述流程控制的测试方法适应于一电子设备，电子设备配置有用于串行测试的第一测试平台和用于并行测试的第二测试平台；所述流程控制的测试方法包括：进入测试流程后，根据预设测试工具中的测试参数，判断是否需要切换至第二测试平台；若是，切换至第二测试平台，以调用第二测试平台与第一测试平台执行并行测试；待测试结束，收集包括测试结果的标志文件；若否，仅调用第一测试平台执行串行测试。本发明通过将测试流程和测试工具配合，灵活控制测试工具并行，大大节省了测试工具的压测时间，提升了产能；且能够提早发现待测设备存在问题，以便及时修正方便后续测试及出货。 | ||
| 搜索关键词： | 流程 控制 测试 方法 系统 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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