[发明专利]测试芯片的方法及装置

摘要

本发明提供了测试芯片的方法及装置，该方法，包括：从待测试的多个芯片中确定多个样本芯片；确定每个样本芯片的当前性能指标的值；确定多个样本芯片的当前性能指标的值的平均值和标准差，生成当前性能指标的测试范围，测试范围为(μ1‑3σ1，μ1+3σ1)，μ1为平均值，σ1为标准差；针对每个非样本芯片，执行：确定当前的非样本芯片的当前性能指标的值，判断当前的非样本芯片的当前性能指标的值是否在当前性能指标的测试范围内，如果是，则确定当前的非样本芯片的当前性能指标是合格的，否则，确定当前的非样本芯片的当前性能指标是不合格的；多个芯片中不是样本芯片的芯片为非样本芯片。本发明提供了测试芯片的方法及装置，能够提高合格的芯片的一致性。