[发明专利]高压密封圈测试装置及测试方法

摘要

本发明涉及高压密封圈测试装置及测试方法，包括压力舱，压力舱包括筒体和测试件安装结构，筒体一端设有连通其内部的介质通道；测试件安装结构包括外堵头、内堵头和端盖，外堵头与筒体的另一端螺纹连接，内堵头安装在外堵头的圆孔中，内堵头外壁有用于安装测试件的环形槽；端盖从外端轴向顶紧内堵头和外堵头，端盖与外堵头螺纹连接。本发明本发明能用于不同线径、不同厚度的密封圈、不同密封槽形状等的测试试验，其装配简单，使用方便；本发明方法通过在不同温度不同压力测试密封圈的性能，对密封圈的性能评价更加完善和全面，测试结果更可靠。