[发明专利]利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法有效
| 申请号： | 201911199161.7 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111579570B | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 刘洋;李殿中;王培;张潇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008;G01N23/207 |
| 代理公司： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人： | 张志伟 |
| 地址： | 110016 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及检测分析技术领域，具体指一种利用微区X射线衍射(Micro‑XRD)表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法。该方法通过电解或酸溶的方式提取钢中的非金属夹杂物，对提取颗粒进行汇聚、提纯和制样，获得高质量的微区X射线衍射检测样品，通过微区X射线衍射分析，能够确定检测颗粒的晶体结构。本发明方法可以简单有效地确定钢中非金属夹杂物的晶体结构、晶格参数以及物相种类等信息，通过制备高质量的钢中非金属夹杂物粉末样品和设置合理的微区X射线衍射检测参数，来解决现有的样品制备困难、X射线衍射(XRD)检测结果不理想等技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 射线 衍射 表征 中非 金属 夹杂 晶体结构 方法 | ||
【主权项】：
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