[发明专利]用于集成电路老化测试的手动测试夹具在审
| 申请号： | 201911203859.1 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110736918A | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 姜扬;王传刚 | 申请（专利权）人： | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 32260 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 丰叶 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏州工业园区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于集成电路老化测试的手动测试夹具，包括测试盖、集成电路测试座，测试盖位于集成电路测试座上方，且测试盖能盖合集成电路测试座，测试盖上设置有温度传感器，温度传感器能与集成电路测试座上的待测集成电路上表面接触，温度传感器与测试盖弹性连接，测试盖上设置有对待测集成电路降温的降温元器件、对待测集成电路升温的加热元器件，加热元器件、降温元器件以及温度传感器分别连接到温控设备的控制连接器的第一引脚、第三引脚上，控制连接器的第五引脚和第六引脚上串联有温度传感器，控制连接器的第二引脚、第四引脚接地。本发明能有效加热待测集成电路，使集成电路处于符合要求的温度区间的用于集成电路老化测。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 温度传感器 引脚 集成电路测试 测试 控制连接器 加热元器件 元器件 夹具 弹性连接 老化测试 手动测试 温度区间 温控设备 引脚接地 上表面 盖合 加热 串联 老化 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成电路老化测试的手动测试夹具，包括测试盖(1)、集成电路测试座(2)，所述测试盖(1)位于集成电路测试座(2)上方，且所述测试盖(1)能盖合所述集成电路测试座(2)，其特征在于：所述测试盖(1)上设置有温度传感器(3)，所述温度传感器(3)能与集成电路测试座(2)上的待测集成电路(4)上表面接触，所述温度传感器(3)与测试盖(1)弹性连接，所述测试盖(1)上设置有对待测集成电路(4)降温的降温元器件(5)、对待测集成电路(4)升温的加热元器件(6)，所述加热元器件(6)、降温元器件(5)分别连接到温控设备的控制连接器(12)的第一引脚、第三引脚上，所述控制连接器(12)的第五引脚和第六引脚上串联有温度传感器(3)，所述控制连接器(12)的第二引脚、第四引脚接地。/n
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