[发明专利]一种同心锥TEM室场均匀性校准方法有效
| 申请号： | 201911214486.8 | 申请日： | 2019-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN110954754B | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 彭博;黄承祖;刘星汛;齐万泉 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 李潇 |
| 地址： | 100854 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种同心锥TEM室场均匀性校准方法，包括：将场强探头放入同心锥TEM室场均匀区中心，记为初始位置；调节TEM室输入频率至下限试验频率，馈入能产生标准场强的恒定前向功率，记录所述初始位置的场强读数和前向功率；保持所述前向功率不变，围绕初始位置，沿不同方向确定第一位置、第二位置、第三位置和第四位置，四个位置形成的区域大小，能够将场强探头包围，且与初始位置场强相差绝对值均不大于设定范围；步进调节输入频率至试验频率上限，重复上述步骤，得到同心锥TEM室场均匀区。本申请填补了同心锥TEM室场均匀性校准方法空白，能够快速、准确地进行场均匀性校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同心 tem 均匀 校准 方法 | ||
【主权项】：
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