[发明专利]测试方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 201911217473.6 | 申请日: | 2019-12-02 |
公开(公告)号: | CN110968514A | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 丁一 | 申请(专利权)人: | 北京明略软件系统有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京超成律师事务所 11646 | 代理人: | 孔默 |
地址: | 100000 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明的实施例提供了一种测试方法、装置、电子设备和存储介质,涉及测试技术领域。本发明实施例提供的测试方法、装置、电子设备和存储介质,基于配置的数据格式以及配置的数据量,获取待测数据,并基于测试所用的待测算法,配置与待测算法相关联的测试用例,通过执行测试用例,对待测数据进行测试,降低了待测数据生成的难度以及测试工作的复杂度,减少了测试工作的工作量。 | ||
搜索关键词: | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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