[发明专利]存储单元的擦除验证方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 201911233562.X | 申请日： | 2019-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN112927743A | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 林子曾;刘会娟;金浩妮;潘荣华 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C16/16 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种存储单元的擦除验证方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括：在确定产生对存储块的擦除验证需求时，获取所述存储块的当前擦除循环统计结果；查询与所述当前擦除循环统计结果匹配的擦除验证方式对所述存储块中每个存储单元进行擦除验证。本发明实施例可以在兼顾擦除验证的同时，降低对闪存的擦写损耗。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 单元 擦除 验证 方法 装置 计算机 设备 介质 | ||
【主权项】：
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