[发明专利]一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备及其测试方法有效
| 申请号： | 201911258003.4 | 申请日： | 2019-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN110927499B | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 史春蕾;马振洋;田毅;董磊;汪克念 | 申请（专利权）人： | 中国民航大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人： | 李美英 |
| 地址： | 300300 天*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备及其测试方法，包括近场探头，还包括电磁屏蔽壳体、被测电路安装台，电磁屏蔽壳体为矩形空腔结构，由顶盖开合，在电磁屏蔽壳体的侧面，分别设有电源线孔和信号线孔，在电磁屏蔽壳体顶盖中心处设有探头线缆孔；近场探头垂直的固定在顶盖内面探头线缆孔的下方，用以接收或者发射电磁干扰信号。测试集成电路近场发射电磁干扰，得到被测射频集成电路对外辐射电磁干扰的干扰范围和强度；测试射频集成电路近场电磁敏感性，得到被测射频集成电路的受干扰范围与敏感性阈值。本发明可用于射频集成电路的近场发射电磁干扰和近场电磁敏感性测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 集成电路 近场 电磁 兼容性 测试 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国民航大学，未经中国民航大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911258003.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电脑横机的编织物下拉装置
- 下一篇：一种环氧大豆油衍生物的制备方法
