[发明专利]一种芯片包覆封装结构及其封装方法在审
申请号: | 201911267168.8 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN110890285A | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 徐虹;陈栋;张黎;陈锦辉;赖志明;张国栋 | 申请(专利权)人: | 江阴长电先进封装有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31;H01L23/552;H01L23/482;H01L21/78 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 赵华 |
地址: | 214434 江苏省无锡市江阴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种芯片包覆封装结构及其封装方法,属于半导体封装技术领域。其芯片电极(112)的正面设有芯片电极钨塞孔(113),所述芯片单体(111)的正面设置钝化层(210),其钝化层开口(213)露出芯片电极钨塞孔(113)的正面,所述钝化层(210)的上表面设置再布线层(310),再布线层(310)与芯片电极钨塞孔(113)形成电气联通,并在再布线层(310)上方设置介电层(410),所述介电层开口(411)露出再布线层(310)的正面;在所述介电层开口(411)处设置铜凸块(500),与再布线(310)形成电气联通;在所述芯片单体(111)的四周和背面设置包封层(121)。本发明在晶圆重构前完成再布线层(210)的设置,解决了重构晶圆极小钝化层开口(213)对位偏移的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 封装 结构 及其 方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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