[发明专利]高精度混合集成电路测试架隔离保护结构

摘要

本发明公开了一种高精度混合集成电路测试架隔离保护结构，涉及电路测试辅助结构技术领域。该测试架隔离保护结构将单片机、测试芯片、继电器、隔离光耦和Handle接口集成在一块电路基板上，利用光耦实现测试架电源与地短路检测、测试架电源与待测芯片电源隔离，能够防止带电插拔损坏芯片，方便安装且增加使用效率，其所有模拟电源和数字电源、模拟地和数字地均采用光耦隔离，抑制共模干扰，避免一体化设计时产生的共模干扰，保证系统信号稳定以及整体工作正常，减小了系统的体积，降低成本提高效率，还可以测量芯片的电源和地是否短路，且电源和指令信号采用光耦隔离，防止串扰。