[发明专利]一种超导磁测系统角度误差的校正方法及存储介质有效
| 申请号： | 201911274147.9 | 申请日： | 2019-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN111077595B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 邱隆清;翟俊奇;伍俊;荣亮亮;董慧;裴易峰;陶泉;张国峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00;G01V3/16;G01V3/165 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;贾允 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超导磁测系统角度误差的校正方法及存储介质，采用一套磁测装置来确定全张量磁梯度测量组件与组合惯导之间的角度安装误差，所述方法包括：利用总场探测器获取外界磁场总场；根据所述外界磁场总场，对三轴磁强计磁场进行校正，获得校正后的三轴磁强计的磁场分量信息；将所述三轴磁强计的磁场分量信息与地球磁场模型信息进行对比，获得三轴磁强计的磁场姿态信息；将组合惯导获取的姿态信息与所述三轴磁强计的磁场姿态信息进行对比，即可获得两组姿态间的目标安装误差；根据所述目标安装误差值进行角度安装误差的校正。本校正方法简单、精准度高，特别适合在实际的超导磁测量领域中应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超导 系统 角度 误差 校正 方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
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