[发明专利]一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法在审
| 申请号： | 201911289773.5 | 申请日： | 2019-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN111063625A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 郭小佳;张建伟;韩福英;孙旭;姚应妮;刘小雨 | 申请（专利权）人： | 凯盛光伏材料有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司： | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 | 代理人： | 陈俊 |
| 地址： | 233010 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法，包括以下步骤：将待测薄膜光伏组件放置于Halm测试机，利用Halm测试机测试薄膜光伏组件的电学性能参数，电学性能参数包含短路电流Isc、开路电压Uoc、填充因子FF、功率Pmpp；依次在在待测薄膜光伏组件上放置紫色滤光片、蓝色滤光片、绿色滤光片、黄色滤光片与红色滤光片，分别测试在不同波段下的电学性能参数，根据电学性能参数计算在不同波段下的吸收率；将不同波段下的吸收率进行对比，即可以发现薄膜光伏组件各膜层的性能及优化方向；本方法操作简单，能够极大地提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 太阳能 薄膜 组件 波段 检测 方法 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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