[发明专利]存储器、导电回路电接触状态评测方法、装置和设备在审
| 申请号： | 201911309498.9 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN111090007A | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 高凯;陈洪岗;司文荣;许乐然;关永刚 | 申请（专利权）人： | 国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R31/50 |
| 代理公司： | 北京至臻永信知识产权代理有限公司 11568 | 代理人： | 杨海涛;彭晓玲 |
| 地址： | 200120 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了存储器、导电回路电接触状态评测方法、装置和设备，其中所述方法包括：在环境温度下测量待测GIS回路的回路电阻；对待测GIS回路进行包括有多个阶段的升温试验，并在每完成一个阶段升温试验后测量待测GIS回路的回路电阻，以获得不同温度下的回路电阻；根据待测GIS回路在不同温度下的回路电阻生成阻值变化曲线；根据阻值变化曲线的特性生成电接触状态评测结果，能够发现更多的接触状态隐患，从而有效的提高了导电回路电接触状态评测的准确性和有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 导电 回路 接触 状态 评测 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
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