[发明专利]一种光学材料性能检测装置有效
| 申请号： | 201911312386.9 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN111122397B | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 黄凌雄;陈瑞平;张戈;李丙轩;廖文斌 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 | 代理人： | 校丽丽 |
| 地址： | 350002 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学材料性能检测装置，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有装置不能提供光学材料二阶非线性光学信号检测区域处准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能的问题。所述检测装置包括：样品台，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在样品台的上方，用于采集待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据待测区域的图像获取待测区域中待测样品的粒度信息。本发明用于光学材料的二阶非线性光学性能分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学材料 性能 检测 装置 | ||
【主权项】：
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