[发明专利]对集成电路设计进行分析的方法、装置、终端及存储介质有效
| 申请号： | 201911324052.3 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN111177987B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 胡伟;朱岩 | 申请（专利权）人： | 北京天下行知科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 景鹏;何爽 |
| 地址： | 100195 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种对集成电路设计进行分析的方法、装置、终端及存储介质。其中方法：确定与待测试的集成电路设计对应的时间信息流模型；基于多个测试条件，确定时间信息流模型输出的与多个测试条件分别对应的输出时间属性标签，任一测试条件包括多个测试输入信号各自的值，以及相应的输入时间属性标签；依据时间信息流模型输出的与多个测试条件分别对应的输出时间属性标签，对集成电路设计的时间信息流进行分析。本申请实施例将时间属性标签的唯一性作为判断集成电路设计时间信息流安全性的标准，解决了现有技术中因无法对时间信息流进行精确建模与分析，导致的攻击者利用信息流的时间信道流向来窃取用户信息的问题，提高了硬件设备的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路设计 进行 分析 方法 装置 终端 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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