[发明专利]一种LYSO晶片的制造保护方法在审
申请号: | 201911326459.X | 申请日: | 2019-12-20 |
公开(公告)号: | CN111113703A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 武志龙;汪新伟;丁言国;叶崇志 | 申请(专利权)人: | 上海新漫晶体材料科技有限公司 |
主分类号: | B28D5/00 | 分类号: | B28D5/00;B28D7/04;B24B1/00;B24B37/08;B24B29/02;B24B41/00 |
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地址: | 201821 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种LYSO晶片的制造保护方法,包括晶片第1面和第2面粘接固定;晶片第1面和第2面研磨抛光;晶片群第3面和第4面研磨抛光;晶体群二型保护片固定;小晶体群切割;晶片群第3面3和第4面4研磨抛光;小晶体群的第5面和第6面进行研磨抛光;保护片脱离等步骤,最终的小晶体群的尺寸为18.1×2.76×2.76mm;并将一型保护片和二型保护片拆除;最终的LYSO晶片;本发明采用了LYSO晶片的制造方法,尤其在小截面的LYSO晶片的制造方面,减少了发生崩边等问题,提升了晶片的质量,降低了加工成本使得LYSO晶片在上述的研磨时晶片可以得到有效保护,降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 lyso 晶片 制造 保护 方法 | ||
【主权项】:
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