[发明专利]具有LED测试点的LED晶圆及转移方法在审
| 申请号： | 201911339927.7 | 申请日： | 2019-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN111106162A | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 刘权锋;庄文荣;孙明;付小朝;卢敬权 | 申请（专利权）人： | 东莞市中晶半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L29/06 | 分类号： | H01L29/06;H01L23/544;H01L23/58;H01L21/677 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 罗泳文 |
| 地址： | 523000 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种具有LED测试点的LED晶圆及转移方法，所述LED晶圆包括多个LED单元以及至少一个LED测试点，所述LED测试点与所述LED单元具有相同结构，且所述LED测试点的尺寸大于所述LED单元，所述LED测试点用于进行LED电性测量，获得所述LED测试点的电性参数，以表征所述LED单元的电性参数。本发明通过在LED晶圆设置与常规LED单元结构相同，且尺寸较大的LED测试点，利用LED测试点的电性参数来表征常规LED单元的电性参数，从而实现细小LED芯片，如Micro LED的电性测量，在无需分选的情况下保证芯片波长的一致性，从而有效提升芯片的利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 led 测试 转移 方法 | ||
【主权项】：
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