[发明专利]集成电路版图的检测方法、装置、设计方法与电子设备有效
| 申请号： | 201911343537.7 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN111159971B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 高敬;周玉洁;孙坚 | 申请（专利权）人： | 上海航芯电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种集成电路版图的检测方法、装置、设计方法与电子设备，所述的方法，包括：确定所需检测的当前金属网络的GDS文件；自所述GDS文件获取各金属线的金属线坐标；自所述GDS文件获取现有过孔的坐标；根据所述金属线坐标与所述现有过孔的坐标，确定遗漏过孔和/或缺失过孔的坐标。本发明可有效避免因过孔遗漏或缺失所导致的金属线电阻增加，进而避免芯片功能紊乱、电迁移以及直接烧毁等情况的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 版图 检测 方法 装置 设计 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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