[发明专利]缺陷检测方法、检测装置及触控显示面板的检测方法有效

专利信息
申请号: 201911348644.9 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN110987945B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 张俊杰;季迪 申请(专利权)人: 合肥维信诺科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06T7/00;G06T7/70
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 娜拉
地址: 230037 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种缺陷检测方法、检测装置及触控显示面板的检测方法。缺陷检测方法包括:获取待检测物的检测图像,初始灰阶曲线具有多个灰阶峰部;降低初始灰阶曲线中的多个灰阶峰部之间的灰阶差异,初始灰阶曲线转化为处理后灰阶曲线;向处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值线,缺陷阈值线为待检测物的检测位置与对应检测位置若产生缺陷时的灰阶阈值的关系线;以及根据处理后灰阶曲线以及缺陷阈值线获取待检测物的缺陷位置。根据本发明实施例的缺陷检测方法,能够提高缺陷的检出能力。
搜索关键词: 缺陷 检测 方法 装置 显示 面板
【主权项】:
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