[发明专利]具有选择性模制的用于镀覆的封装工艺在审
申请号: | 201911348978.6 | 申请日: | 2019-12-24 |
公开(公告)号: | CN113035722A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 金龙男;H·卡勒;刘俊锋;丁慧英;T·施密特 | 申请(专利权)人: | 维谢综合半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/60;H01L23/31;H01L23/495 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王琼先;王永建 |
地址: | 美国宾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了用于在引线半导体封装上形成可润湿侧面的技术和装置。引线框可以包括多个引线组,每个引线组包括具有芯片表面和镀覆表面的引线,位于第一方向上的相邻引线组之间的通孔,以及布置在每个芯片引线的芯片表面上的集成电路芯片。可以在镀覆表面上施加模制包封,该模制包封包括延伸到第一方向的每个相邻引线组之间的通孔中的模制包封延伸部,每个模制包封延伸部具有峰表面。引线框组件可以部分地嵌入在模制封套中,使得模制封套的一部分接触峰表面。模制包封可以被去除以暴露出镀覆表面和包括侧壁的通孔,并且侧壁可以被镀覆以电镀层。 | ||
搜索关键词: | 具有 选择性 用于 镀覆 封装 工艺 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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