[发明专利]用于辐射检查的探测器及探测装置在审
| 申请号： | 201911363127.9 | 申请日： | 2019-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN113031044A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 李树伟;张清军;邹湘;朱维彬;赵博震;王钧效 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种用于辐射检查的探测器，包括：灵敏介质，被配置为与入射到探测器的入射光进行反应，从而产生高能辐射光和低能辐射光；高能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的远离所述入射光的一端处，用于探测所述高能辐射光；以及，低能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的靠近所述入射光的一端处，用于探测所述低能辐射光。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 辐射 检查 探测器 探测 装置 | ||
【主权项】：
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