[发明专利]过抹除校正方法及使用该方法的存储器装置在审
| 申请号： | 201911363133.4 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN113053443A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 陈致豪 | 申请（专利权）人： | 晶豪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 李芳华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 存储器装置包含多个存储器区块，每个存储器区块包含多行的存储器单元，每一行存储器单元耦接于对应位线。在电力开启序列完成后，检测一组存储器区块中多个对应行的漏电流是否大于预定水平，其中该组存储器区块包含多个存储器区块的(i+1)个存储器区块，i为正整数。若该组存储器区块中的多个对应行的漏电流大于预定水平时，对多个对应行执行过抹除校正。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 方法 使用 存储器 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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