[发明专利]用于校准坐标测量仪的标准器有效
申请号: | 201911371274.0 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN111380494B | 公开(公告)日: | 2022-06-07 |
发明(设计)人: | V.格雷夫兹;U.霍尔兹;N.哈弗坎普;U.蔡瑟 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;G01B11/03;G01C15/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王蕊瑞 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于校准坐标测量仪的标准器(10),该标准器具有基体(12),该基体具有永久性校准结构(14)。该校准结构(14)具有第一组件(15)。该第一组件(15)以如下方式设计,使得该第一组件(15)向平面的投影(20)的相交于共同点(16)的三条轴线(18)分别穿过相同设计的第一区段(22)。这些第一区段(22)在一侧分别由共同点(16)界定。这些相同设计的第一区段(22)分别具有n个区(24)。直接相邻的区(24)的不同之处在于光学特征。n大于或等于3。 | ||
搜索关键词: | 用于 校准 坐标 测量仪 标准 | ||
【主权项】:
暂无信息
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