[发明专利]一种线性测量系统有效

专利信息
申请号: 201911378014.6 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN111024137B 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 张子辉;李羿轩;黄煜;王淑荣;林冠宇;曹佃生;杨小虎;李占峰;李寒霜 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01D5/26 分类号: G01D5/26
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 宁晓丹
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种线性测量系统涉及光电探测系统探测性能测量技术领域,解决了像面照度低、光谱范围小和动态范围小的问题,一种线性测量系统,辐射源出射的信号光依次经第一抛物面反射镜、可调光阑后经分束镜分成透射信号光和反射信号光,透射信号光经第一滤光片轮组和第一平面反射镜后入射到合束镜上,反射信号光经第二滤光片轮组和第二平面反射镜后入射到合束镜上,合束镜合束后的信号光依次经第三滤光片轮组、经第二抛物面反射镜和导光棒出射,其中辐射源为谱段包括250‑2500nm,分束镜与合束镜均与透射光束呈25°;本发明光谱范围大、提高了像面照度、动态范围达到109、适用范围广。
搜索关键词: 一种 线性 测量 系统
【主权项】:
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