[发明专利]一种线性测量系统有效
申请号: | 201911378014.6 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN111024137B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 张子辉;李羿轩;黄煜;王淑荣;林冠宇;曹佃生;杨小虎;李占峰;李寒霜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01D5/26 | 分类号: | G01D5/26 |
代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 宁晓丹 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: |
一种线性测量系统涉及光电探测系统探测性能测量技术领域,解决了像面照度低、光谱范围小和动态范围小的问题,一种线性测量系统,辐射源出射的信号光依次经第一抛物面反射镜、可调光阑后经分束镜分成透射信号光和反射信号光,透射信号光经第一滤光片轮组和第一平面反射镜后入射到合束镜上,反射信号光经第二滤光片轮组和第二平面反射镜后入射到合束镜上,合束镜合束后的信号光依次经第三滤光片轮组、经第二抛物面反射镜和导光棒出射,其中辐射源为谱段包括250‑2500nm,分束镜与合束镜均与透射光束呈25°;本发明光谱范围大、提高了像面照度、动态范围达到10 |
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搜索关键词: | 一种 线性 测量 系统 | ||
【主权项】:
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