[发明专利]半导体开关器件的恒温运行测试系统及方法在审
| 申请号： | 201911378613.8 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN111090042A | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 李全春;袁理;李成 | 申请（专利权）人： | 青岛聚能创芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 施婷婷 |
| 地址： | 266000 山东省青岛市崂*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体开关器件的恒温运行测试系统及方法，包括：闭环反馈模块，包括半导体开关器件，基于半导体开关器件实现闭环调节；热电偶，贴设于半导体开关器件的背面，检测半导体开关器件的运行温度；调节模块，连接热电偶，接收热电偶的检测信号及参考信号，并输出差值；控制模块，连接调节模块及闭环反馈模块，基于差值产生控制信号，以调整半导体开关器件的开关占空比，使得半导体开关器件的运行温度保持在设定温度。本发明用于检测半导体开关器件在应用系统上能否长期可靠的运行在一定的极限温度下，无需手动调节系统的负载或者输入电压等条件，自动调节半导体开关器件在每个开关周期内的运行时间，系统简单，成本低，稳定性高。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 开关 器件 恒温 运行 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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