[发明专利]一种待激光切割晶圆的筛选系统以及激光切割装置有效
申请号: | 201911379882.6 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN111037127B | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 杨秋爱;林旭明;蔡秋月;蔡吉明;郭明兴 | 申请(专利权)人: | 厦门三安光电有限公司 |
主分类号: | B23K26/70 | 分类号: | B23K26/70;B23K26/38;B23K26/402;B07C5/34;H01L21/67;H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361100 福建省厦门市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 一种待激光切割晶圆的筛选系统,包括:承载台,用于承载晶圆,所述晶圆一表面侧具有反射层;反射率检测器,包括:第一光源和/或第二光源;检测模块和对比模块,能执行如下步骤:检测晶圆的反射层表面对第一光源的第一反射率T1,然后比对第一反射率T1与一指定的第一反射率阈值T1',如果比对结果为T1>T1',则输出结果以指示该晶圆不能够正常取像,反之则输出结果以指示该晶圆能执行取像;和/或,能执行如下步骤:检测晶圆的反射层表面对第二光源的第二反射率T2,然后比对第二反射率T2与一指定的第二反射率阈值T2',如果比对结果为T2>T2',则输出结果以指示该晶圆不能执行激光切割,反之则输出结果以指示该晶圆能执行切割。 | ||
搜索关键词: | 一种 激光 切割 筛选 系统 以及 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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