[发明专利]一种待激光切割晶圆的筛选系统以及激光切割装置有效

专利信息
申请号: 201911379882.6 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN111037127B 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 杨秋爱;林旭明;蔡秋月;蔡吉明;郭明兴 申请(专利权)人: 厦门三安光电有限公司
主分类号: B23K26/70 分类号: B23K26/70;B23K26/38;B23K26/402;B07C5/34;H01L21/67;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 361100 福建省厦门市*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种待激光切割晶圆的筛选系统,包括:承载台,用于承载晶圆,所述晶圆一表面侧具有反射层;反射率检测器,包括:第一光源和/或第二光源;检测模块和对比模块,能执行如下步骤:检测晶圆的反射层表面对第一光源的第一反射率T1,然后比对第一反射率T1与一指定的第一反射率阈值T1',如果比对结果为T1>T1',则输出结果以指示该晶圆不能够正常取像,反之则输出结果以指示该晶圆能执行取像;和/或,能执行如下步骤:检测晶圆的反射层表面对第二光源的第二反射率T2,然后比对第二反射率T2与一指定的第二反射率阈值T2',如果比对结果为T2>T2',则输出结果以指示该晶圆不能执行激光切割,反之则输出结果以指示该晶圆能执行切割。
搜索关键词: 一种 激光 切割 筛选 系统 以及 装置
【主权项】:
暂无信息
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