[发明专利]一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法在审
| 申请号： | 201911384967.3 | 申请日： | 2019-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN111161786A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 洪斌;顾秋华;张文德 | 申请（专利权）人： | 上海仪电智能电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 刘常宝 |
| 地址： | 201206 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其包括：对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。本发明提供的方案通过矢量图形的指令控制器的有效控制使图形深度得到有效扩展，能够在没有ALPG功能矢量图形深度不够的情况下完成对大容量存储器测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 矢量 图形 深度 利用 效率 容量 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
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