[发明专利]一种基于人工智能的IC芯片缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201911396775.4 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111145164A | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 张弛;朱磊;侯晓峰 | 申请（专利权）人： | 上海感图网络科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/40;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京智客联合知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11700 | 代理人： | 杨群 |
| 地址： | 201800 上海市嘉定区科福*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于人工智能的IC芯片缺陷检测方法，所述检测方法如下：设备准备：高清摄像单元、AI视觉中枢主机、环形光源；通过环形光源，使IC芯片能够清晰展现缺陷图像特征；通过高清摄像单元采集IC芯片的各个不同类型的图像特征；本发明的有益效果是：有助于提高IC芯片缺陷检测的效率，减少人的劳动强度；利用GAN生成样本数据，使得海量真实图片训练得到的识别模型更精准；通过增设的标注模块和提取模块，有助于对IC芯片缺陷部位进行标注，并提高了IC芯片图像识别的精确度；IC芯片图像特征提取时使用双线性插值算法对图片进行缩放，利用卷积核对图像进行卷积处理，进一步提高了图像特征的可靠提取。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 人工智能 ic 芯片 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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