[发明专利]影像检测中发现的缺料或外观不良材料的自动补换料方法及机构在审
申请号: | 201911405287.5 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN111152999A | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 段雄斌;席松涛;雄亚俊 | 申请(专利权)人: | 深圳市标谱半导体科技有限公司 |
主分类号: | B65B57/04 | 分类号: | B65B57/04;B65B35/18 |
代理公司: | 深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44297 | 代理人: | 胡清方;彭友华 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种影像检测中发现的缺料或外观不良材料的自动补换料方法及机构,其中,机构包括工作台,位于工作台上的主碟片、补料轨道、影像NG排料处,以及用于供载带通过的轨道,轨道上具有影像检测处,主碟片上的料可转移至补料轨道上,在工作台的一侧设有自动补换料装置,自动补换料装置包括安装座、位于安装座上的X轴移动单元、位于X轴移动单元上的Z轴移动单元、位于Z轴移动单元上的Y轴移动单元、吸嘴和吸嘴安装组件,吸嘴通过吸嘴安装组件安装在Y轴移动单元上。因此,本发明具有可以实现自动补换料的、不需要人工操作的、能够提高工作效率的优点。 | ||
搜索关键词: | 影像 检测 发现 外观 不良 材料 自动 补换料 方法 机构 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市标谱半导体科技有限公司,未经深圳市标谱半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911405287.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。