[发明专利]集成电路及其形成方法在审

专利信息
申请号: 201911416488.5 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN112349723A 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 林孟汉;邱德馨 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L29/423;H01L21/28
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本案提供一种集成电路元件,包括多个金属栅极及多个多晶硅栅极,每个金属栅极具有金属电极及高介电常数介电质,每个多晶硅栅极具有多晶硅电极及习用(非高介电常数)介电质。多晶硅栅极已经为作为高压栅极操作进行了改进,此高压栅极包括厚介电层及大于1μm2的面积。具有这些改进的多晶硅栅极可在10V或更高的栅极电压下操作,并且可用于嵌入式记忆体元件中。
搜索关键词: 集成电路 及其 形成 方法
【主权项】:
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