[发明专利]坏点检测及校正装置有效

专利信息
申请号: 201911418162.6 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN110891172B 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 朱煜枫;田景军;詹进;朱媛媛;潘昱 申请(专利权)人: 上海富瀚微电子股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/367
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 201103 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种坏点检测及校正装置,包括:数据输入单元、增益补偿单元、坏点检测强度单元、多个坏点检测单元、坏点检测融合单元和校正单元;所述数据输入单元用于输入图像信息;所述增益补偿单元用于多个通道的增益补偿;所述坏点检测强度单元用于输送逻辑值为0或者1的控制参数;所述坏点检测单元接收所述控制参数并且检测增益补偿后的图像数据是否有坏点;所述坏点检测融合单元将多个所述坏点检测单元的检测结果进行融合并输出坏点信息;所述校正单元对所述坏点信息进行校正。在本发明提供的坏点检测及校正装置中,图像中的静态坏点和动态坏点在单一坏点和双坏点簇两种情形下的坏点检测和校正功能。
搜索关键词: 检测 校正 装置
【主权项】:
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