[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置

摘要

本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置,包括底座、显示屏和测试座，所述底座一侧安装有显示屏，所述底座上安装有控制面板，所述底座上安装有测试座，所述测试座上开设有安装槽，所述安装槽中安装有限位装置、所述测试座与底座之间安装有减震装置。本实用新型在测试座上开设了安装槽，在安装槽中安装了限位装置，通过两个直角限位杆将芯片固定在测试座上，使其在测试时不发生偏位，提高了测试的质量，其次在测试座和底座之间安装了减震装置，减少了测试时发生的震动对芯片的损坏，保证了测试后芯片的质量。

主权项

1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括底座（1）、显示屏（2）和测试座（3），其特征在于，所述底座（1）一侧安装有显示屏（2），所述底座（1）上安装有控制面板（8），所述底座（1）上安装有测试座（3），所述测试座（3）上开设有安装槽（4），所述安装槽（4）中安装有限位装置、所述测试座（3）与底座（1）之间安装有减震装置。