[实用新型]光探测器芯片性能高速测试平台

摘要

本实用新型涉及探测器技术领域，且公开了一种光探测器芯片性能高速测试平台。该光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座、两个支撑架和支撑板，所述支撑板包括电动推杆、检测装置和固定装置，所述固定装置位于检测装置的左侧，所述底座包括滑槽、槽口、活动板和转动装置，所述底座的内部为中空结构，所述转动装置的底部与底座的内底部固定连接，所述活动板的外侧与滑槽的内侧活动连接，所述转动装置包括电机、转轮和两个转杆。该光探测器芯片性能高速测试平台，通过设置了电机、转轮、转杆、槽口、固定块、活动板和凹槽，该光探测器芯片性能高速测试平台解决了光电探测器在检测时效率低下的问题。

主权项

1.一种光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座(1)、两个支撑架(2)和支撑板(3)，所述支撑板(3)包括电动推杆(31)、检测装置(4)和固定装置(5)，所述固定装置(5)位于检测装置(4)的左侧，所述底座(1)包括滑槽(11)、槽口(12)、活动板(6)和转动装置(7)，所述底座(1)的内部为中空结构，所述转动装置(7)的底部与底座(1)的内底部固定连接，所述活动板(6)的外侧与滑槽(11)的内侧活动连接，其特征在于：所述转动装置(7)包括电机(71)、转轮(72)和两个转杆(73)，所述电机(71)的底部与底座(1)的内底部固定连接，所述电机(71)的输出端与贯穿转轮(72)且与转轮(72)固定连接，两个所述转杆(73)的相对一侧分别与转轮(72)的左右两侧固定连接；所述活动板(6)包括七个凹槽(61)、七个插口(62)和七个固定块(63)，所述凹槽(61)开设于活动板(6)的顶部，所述插口(62)开设于活动板(6)的顶部，所述固定块(63)的顶部与活动板(6)的底部固定连接，所述固定块(63)位于凹槽(61)的正下方。